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Photovoltaik-Institut Berlin präsentiert Forschungsergebnisse auf der Europäischen Photovoltaikkonferenz EU PVSEC

Das PI Photovoltaik-Institut Berlin stellt auf der Europäischen Photovoltaikkonferenz EU PVSEC im September in Amsterdam neue Testverfahren sowie neue Forschungsergebnisse für die Qualitätskontrolle von Solarmodulen vor.
Im Rahmen des Forschungsprojekts FutureFab, an dem sich 5 Projektpartner drei Jahre lang beteiligten, war das PI Berlin mit seinem akkreditierten Testlabor insbesondere für Untersuchungen zur Langlebigkeit, Sicherheit und Zuverlässigkeit neuartiger Materialien und Verbindungstechniken verantwortlich.

PID-Anfälligkeit, Ertragseinbußen und Abrieb messen

„Weil die Standardtestverfahren insbesondere bei neuen Materialien nicht immer ausreichen, haben wir im Rahmen des Projekts neue Teststände und Verfahren entwickelt“, erklärt Simon Koch, Projektleiter am Photovoltaik-Institut Berlin. Mit den Verfahren können die Forscher ermitteln, wie anfällig Einkapselungsmaterialien auf die spannungsinduzierte Degradation (PID) reagieren. Mit den neuen Testständen lassen sich Aussagen über Ertragseinbußen durch verschmutzte Solarmodule im Feld, notwendige standortabhängige Reinigungsintervalle und geeignete Reinigungsmethoden treffen.

Herstellungskosten signifikant gesenkt

Durch die Entwicklung neuer Produktionstechnologien und optimierter Prozessschritte ist es PI-Berlin gemeinsam mit den anderen Verbundpartnern gelungen, die Herstellungskosten der Solarfabriken der nächsten Generation pro Watt-Peak signifikant zu senken. Das Projekt FutureFab wurde am 30. Juni abgeschlossen und vom Bundeswirtschaftsministerium, vom Bundesforschungsministerium und von der Innovationsallianz Photovoltaik gefördert.

PI-Berlin bei der EU PVSEC in Amsterdam

Bei der Europäischen Photovoltaikkonferenz EU PVSEC, die vom 23. bis zum 26. September in Amsterdam stattfindet, wird PI-Berlin folgende Themen präsentieren:



Vortrag:

5DO.11.5 FROM THE IMPACT OF HARSH CLIMATES AND ENVIRONMENTAL CONDITIONS ON PV-MODULES - DEVELOPMENT OF A SOILING AND ABRASION TEST von Dipl.-Ing. (FH) Thomas Weber

Posterbeiträge:

5DV.3.1 Prediction Model for Potential Induced Degradation Effects on Crystalline Silicon Cells von Dipl.-Ing. (FH) Simon Koch

5BV.4.4 Comparison of Hot Spot Investigations under Laboratory and Field Conditions at Photovoltaic Modules von Stefan Wendlandt M.Sc.

5CV.2.4 INVESTIGATION OF PRECONDITIONING PROCEDURES FOR THIN FILM MODULES
von Dr. Nicoletta Ferretti

04.08.2014 14:32

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